Le diffractomètre AL-Y500 est le dernier modèle de diffractomètre à rayons X bidimensionnel de paillasse. Il adopte une méthode de détection à caméra fixe, différente des diffractomètres traditionnels à balayage. Le détecteur de photons à semi-conducteurs de type réseau de rayons X permet des modes de compatibilité 0D, 1D et 2D pour les points, les lignes et les surfaces.

Il est principalement utilisé pour l'analyse qualitative et quantitative d'échantillons polycristallins, y compris l'analyse quantitative sans échantillons de référence, la détermination de la cristallinité, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, la mesure de la taille des grains, le raffinement de la structure, l'analyse de micro-zones, l'analyse des contraintes des films minces et des textures, etc. Il est applicable à divers domaines et industries tels que les minéraux, les produits pharmaceutiques, les produits chimiques, les métaux et alliages, les matériaux de construction, les nanomatériaux, les batteries, les échantillons alimentaires, les échantillons biologiques, etc.

Caractéristiques :

1.Le détecteur effectue une photographie fixe, ce qui est différent de l'instrument de diffraction de type balayage traditionnel. Le mode photographie est très efficace et rapide, environ 5 à 30 fois plus rapide que le mode balayage. Il convient à l'analyse in situ, et les informations de diffraction de tous les angles peuvent être collectées simultanément. Il a une résolution énergétique élevée, réduisant efficacement le bruit de fond de fluorescence.

2.Les bras de l'instrument de mesure d'angle θs et θd adoptent une commande de servomoteur et une technologie de codage optique. Le détecteur peut effectuer un mouvement à double position le long de l'axe 2θ. La rotation de l'instrument de mesure d'angle est plus stable, la mesure de l'angle de diffraction est plus précise et la linéarité est meilleure. Lorsque l'échantillon tourne le long de l'axe θ, la précision du contrôle est de 0,01°, et la précision de l'angle de l'axe 2θ est de ±0,02°.

3.Les composants du détecteur sont composés de plusieurs unités de détecteur, qui sont uniformément fixées le long du cercle de diffraction et offrent une couverture transparente pour tous les angles ; les détecteurs à réseau plan à deux couches à 21 plaques (ou à une seule couche à 10 plaques) couvrent la plage 2θ : -3° à 150°. L'imagerie 2D est réalisée, collectant simultanément les informations d'angle γ, les données de diffraction bidimensionnelles, et les informations sont plus abondantes.

4.Détecteur de semi-conducteurs à comptage photonique plan à rayons X, avec une sensibilité élevée, capable de comptage de photons uniques, une large plage dynamique, des seuils doubles ; sources de lumière ponctuelles et linéaires interchangeables, combinant les géométries optiques Debye-Scherrer et BB, compatibles avec les échantillons plans et cylindriques, compatibles avec les modes 2D, 1D et OD du détecteur. De plus, il a une forte résistance aux radiations et une longue durée de vie.

5.Le dispositif de protection contre les radiations diffusées est plus sûr et plus fiable. Pendant la mesure de l'échantillon, la porte de protection contre les radiations se verrouillera automatiquement, garantissant que les opérateurs ne seront exposés aux radiations diffusées en aucun cas.

6.La taille compacte lui permet d'être installé sur une paillasse expérimentale, sans avoir besoin d'un environnement de laboratoire spécifique. Il est simple à utiliser, à faire fonctionner et à entretenir.

Paramètre technique