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Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre
Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre
Les spécifications
Numéro de modèle :
Atomedge Pro
Lieu d'origine :
CHINE
Quantité de commande minimale :
1
Conditions de paiement :
T / t
Nom :
Microscopes à force atomique
Angle de balayage :
0 ~ 360 "
Plage de balayage :
Maximum 100 μm * 100 μm * 910 μm
Échantillon :
Compatible avec des plaquettes de 8 pouces et en dessous
Mesure multifonction :
EFM, KFM, PFM, MFM
Vitesse de balayage :
0,1 Hz-30Hz
Définition
Microscope à force atomique au niveau de la plaquette
Modèle de produit:

Atommax

Présentation du produit:

En utilisant des structures de sonde micro-canaillat, cet instrument permet la caractérisation de la morphologie 3D des matériaux solides conducteurs, semi-conducteurs et isolants, atteignant une caractérisation de morphologie à grande échantillon au niveau de la plaquette. Combiné avec une image optique, l'étape de positionnement de l'échantillon à entraînement électrique permet une précision de positionnement de 1 μm dans une zone de 200 x 200 mm. avec des opérations entièrement automatisées pour l'alignement laser, l'approche de sonde et le réglage des paramètres de balayage.

Spécifications de performance de l'équipement
Paramètre Spécification
Échantillon Compatible avec des plaquettes de 8 pouces et en dessous
Plage de balayage Maximum 100 μm * 100 μm * 910 μm
Angle de balayage 0 ~ 360 "
Résolution Résolution en boucle fermée de l'axe z 0,15 nm; Résolution en boucle fermée x / y 0,5 nm
Résolution de la sonde de la sonde de numérisation Pas moins de 32x32 ~ 4000x4000
Modes de fonctionnement Mode de contact, mode de taraudage, mode d'imagerie de phase, mode de levage, mode de balayage multidirectionnel
Mesure multifonction EFM, KFM, PFM, MFM

Cas de candidature

Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre

  • Potentiel de la feuille d'électrode à bande AU-Ti
  • Mode de balayage: KPFM (mode de levage)
  • Plage de balayage: 18 μm * 18 μmtitanium Film - Film de titanate en aluminium

Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre

  • Force électrostatique de la feuille d'électrode à bande AU-Ti
  • Mode de balayage: EFM (mode de levage)
  • Plage de balayage: 18 μm * 18 μm

Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre

  • Domaines magnétiques dans des films minces Fe-Ni
  • Mode de balayage: MFM (mode de levage)
  • Plage de balayage: 14 μm * 14 μm

Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre

  • Image d'amplitude verticale correspondante de PBTIO3-PIEZOELLECTR
  • Mode de numérisation: PFM (mode de contact)
  • Plage de balayage: 20 μm * 20 μm
Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre
  • CO / PT FILM
  • Mode de balayage: microscopie à force magnétique (MFM)
  • Plage de balayage: 25 μm * 25 μm
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Détails du produit
Numéro de modèle :
Atomedge Pro
Lieu d'origine :
CHINE
Quantité de commande minimale :
1
Conditions de paiement :
T / t
Nom :
Microscopes à force atomique
Angle de balayage :
0 ~ 360 "
Fournisseur de contact
vidéo
Microscopie de force atomique au niveau de la gaufre

Truth Instruments Co., Ltd.

Active Member
1 Années
shandong, qingdao
Depuis 2019
Produits principaux :
Microscope à force atomique, Microscope Kerr, Magnétomètre d'échantillon vibrant
Total annuel :
15.000.000-20.000.000
Nombre de salariés :
100~200
Niveau de certification :
Active Member
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