Description du produit:

Le microscope à force atomique (AFM) est un outil polyvalent pour l'analyse de surface, couramment utilisé dans diverses applications scientifiques et industrielles.Cet appareil de pointe offre des capacités de numérisation exceptionnelles et une imagerie précise pour une analyse détaillée des échantillons.

L'une des caractéristiques clés de l'AFM est son impressionnante plage de vitesse de balayage, qui permet un balayage précis à des vitesses allant de 0,1 Hz à 30 Hz.Cette flexibilité de la vitesse de balayage permet aux utilisateurs d'ajuster les réglages en fonction des exigences spécifiques de leurs expériences, assurant des résultats précis et efficaces.

Avec une plage de balayage de 100 μm X 100 μm X 10 μm, l'AFM offre une vue complète de la surface de l'échantillon avec une haute résolution.Cette large plage d'imagerie permet d'obtenir des images détaillées et d'analyser divers types d'échantillons, ce qui en fait un outil idéal pour les chercheurs et les scientifiques dans un large éventail de domaines.

L'AFM est conçu pour accueillir des échantillons de taille allant jusqu'à 25 mm, offrant une polyvalence dans le traitement et l'analyse des échantillons.Cette grande capacité d'échantillonnage rend l'AFM adapté à un large éventail d'applications, de la recherche en nanotechnologie à la science des matériaux et au-delà.

Équipé d'une étape XY motorisée d'une résolution de 100 μm, l'AFM assure un mouvement précis et contrôlé de l'étape d'échantillonnage pendant le balayage.Cette fonctionnalité de commande avancée permet de positionner avec précision l'échantillon, permettant une imagerie et une analyse de haute qualité avec un minimum d'erreur.

L'AFM offre une variété de modes de numérisation, y compris les modes de contact, de tapotement, de non-contact, de force latérale et de modulation de la force.Ces différents modes de numérisation offrent aux utilisateurs une flexibilité dans les techniques d'imagerie et d'analyse, permettant une étude complète des surfaces et des propriétés des échantillons.

En conclusion, le microscope à force atomique est un outil puissant et polyvalent pour l'analyse de surface, couramment utilisé dans la recherche scientifique, la caractérisation des matériaux et les applications industrielles.Avec ses capacités de balayage avancéesAvec des capacités d'imagerie précises et des modes de balayage polyvalents, l'AFM est un instrument essentiel pour les chercheurs et les scientifiques qui recherchent des informations détaillées sur les propriétés de divers échantillons.

Caractéristiques:

• Nom du produit: Microscope de force atomique
• Vitesse de balayage: 0,1 Hz à 30 Hz
• Plage de numérisation: 100 μm X 100 μm X 10 μm
• Étape d'échantillonnage: étape XY motorisée avec une résolution de 100 μm
• Mode de balayage: contact, tapotement, sans contact, force latérale, modulation de la force
• Résolution: 0,04 Nm

Paramètres techniques:

Applications:

Le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments, originaire de Chine, est un outil de pointe conçu pour la caractérisation à l'échelle nanométrique et l'imagerie à résolution atomique.Avec ses caractéristiques et ses capacités avancées, ce produit convient à un large éventail d'applications et de scénarios.

Un scénario d'application clé pour l'AtomEdge Pro est dans la recherche en sciences des matériaux.Les chercheurs peuvent utiliser ce microscope à force de balayage pour étudier la morphologie de surface et les propriétés mécaniques de divers matériaux au niveau nanométriqueLa haute résolution de 0,04 nm permet d'obtenir des images détaillées des structures atomiques, ce qui en fait un outil essentiel pour l'étude des propriétés des matériaux.

Un autre domaine d'application important de l'AtomEdge Pro est le domaine des sciences biologiques.avec une haute précision et résolutionLe stade XY motorisé à résolution de 100 μm permet un positionnement précis des échantillons, ce qui le rend idéal pour l'imagerie d'échantillons biologiques aux structures complexes.

Dans le domaine de la recherche et du développement de semi-conducteurs, l'AtomEdge Pro peut être utilisé pour analyser des matériaux et des dispositifs semi-conducteurs au niveau atomique.1 Hz-30 Hz permet une acquisition rapide des données, ce qui en fait un outil précieux pour caractériser les structures des semi-conducteurs et détecter les défauts.

En outre, l'AtomEdge Pro est également adapté aux applications en sciences de surface et en analyse de films minces.rugosité de la surfaceLa plage de balayage de 100 μm x 100 μm x 10 μm fournit une plateforme polyvalente pour l'étude d'un large éventail de propriétés de surface.

En résumé, le microscope de force atomique AtomEdge Pro de Truth Instruments est un outil polyvalent qui trouve des applications dans divers domaines tels que la science des matériaux, la biologie, la recherche sur les semi-conducteurs,et la science de surfaceSa haute résolution, sa vitesse de balayage,et le stade XY motorisé en font un choix idéal pour les chercheurs et les scientifiques à la recherche de caractérisation à l'échelle nanométrique avancée et des capacités d'imagerie à résolution atomique.