Testeur de taux d'erreur binaire à débit complet 10G avec entrée et sortie parallèles à 12 canaux
Le testeur de taux d'erreur binaire 10G à 12 canaux est un appareil de test de taux d'erreur binaire haute performance qui prend en charge 12 canaux indépendants et couvre des débits de 622M à 15 Gbit/s. Il est principalement utilisé pour la vérification de l'intégrité du signal dans les communications optiques, les centres de données et les scénarios d'interconnexion à haut débit.
Il y a 12 canaux de ports électriques, avec une entrée et une sortie parallèles pour 12 canaux. Le test d'erreur binaire peut être effectué indépendamment pour chaque canal.
Prise en charge de la détection continue des erreurs binaires et de la surveillance chronométrée des erreurs binaires. Prend en charge le débit complet 10G (622M à 15 Gbit/s, plus de 20 points de débit conventionnels, adapté aux modules actifs conventionnels actuels);
Tailles prises en charge : PRBS7 / PRBS 9 / PRBS 15 / PRBS 23 / PRBS 31
1 canal de sortie d'horloge à faible gigue.
Non. |
paramètre |
minimum |
typique |
maximum |
unité |
1 |
Débit de données |
0.622 | 0.622,1.25,2.125,2.488,2.5,3.07,3.125,4.25,5.0,6.144,6.25,7.5,8.5 ,9.953,10.00,10.3125,10.52,10.709,11.09,11.32,11.7,14.025,15 | 15 | Gbit/s |
2 |
Type de code |
PRBS7,PRBS9,PRBS15,PRBS23,PRBS31 | |||
3 |
Temps de montée et de descente (20% à 80%) |
18 | 23 | ps | |
4 |
Inversion de motif |
Prend en charge l'inversion du signal à l'extrémité de réception |
|||
5 |
Amplitude de sortie du signal (mono-extrémité) |
200 | 800 | 1000 | mV |
6 |
Gigue de sortie de données (RMS) |
1.5 (10.3125G vers le bas) |
ps | ||
7 |
Interface d'entrée/sortie de données |
Différentielle, couplage AC, impédance 50 ohms, SMA |
|||
8 |
Sortie d'horloge |
100 | 156.25 | 156.25 | MHz |
9 |
Sensibilité d'entrée du signal de données (mono-extrémité) |
0.1 | Vpp | ||
10 |
Intersections du diagramme de l'œil de sortie de données |
50 | 52 | 54 | % |
11 |
Température de fonctionnement |
10 | 25 | 50 | °C |
Caractéristiques techniques
Détection d'erreur binaire de haute précision
Faible gigue et haute sensibilité
Modularisation et évolutivité
Portabilité et conception compacte