✔Inspection parallèle à deux stationsJe ne sais pas.2X débit(jusqu'à800 pièces/min)
✔Compatibilité transparente/non transparenteL'éclairage à double face (diffusé + coaxial) pourPlastiques transparents ou opaques
✔Détection de défauts à l'échelle nanométriqueIdentifie:
→ Défectuosité de surface (égratignures ≥ 10 μm, traces d'écoulement)
→ Défauts structurels (faute de coupe > 0,05 mm, coups courts)
→ Contaminants (particules étrangères ≥ 30 μm)
Système optique: CMOS double 12MP + triangulation laser 3D (axe Z ± 2 μm)
Transporteur: Tables en verre à double servo (couche antistatique)
Éclairage: strobes programmables à 8 zones (spectre RGBW)
Vitesse de tri: temps de décision de 0,5 ms avec les portes de rejet pneumatiques